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解決方案

奧普特—AOI 外觀臟污檢測

2023/3/28 17:21:13

　　應用描述

　　采用線陣16K相機、背光加拱形光方式，對芯片表面進行拍攝，然后軟件Blob分析臟污。視野大小：60 mm 。精度要求: 0.005 mm 。