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解決方案

奧普特—手機(jī)芯片缺陷檢測(cè)

2023/3/27 11:32:15

　　應(yīng)用描述

　　檢測(cè)手機(jī)芯片表面臟污、劃傷等缺陷。通過選用球積分光源，降低光源工作距離，將臟污、劃傷明顯區(qū)別出來。

　

　實(shí)物圖

　　效果圖

　　手機(jī)芯片缺陷檢測(cè)案例說明下載

      手機(jī)芯片缺陷檢測(cè)例程下載

　　

　　相關(guān)產(chǎn)品

　　OPT-RID52-W

　　采用特制漫射板，使光源發(fā)出的光線均勻分布在整個(gè)圖像上； 有效消除表面不平整形成的干擾。